- 중국 과학원(CAS) 마이크로일렉트로닉스 연구소가 EUV 노광 장비 없이 기존 DUV 장비만을 활용해 3nm 이하 공정용 GAA 소자 초기 개발 경로를 구축했다.
- 연구진은 DUV 기반의 적층형 나노시트 GAA CMOS 공정 통합을 완료하고, 트랜지스터 On/Off 전류 비율을 5×10⁵ 이상으로 끌어올리는 기술 검증에 성공했다.
- 이번 성과는 미국의 장비 규제로 EUV 도입이 차단된 상황에서 중국 독자 기술로 차세대 소자 구조 개발 가능성을 입증한 첫 사례로 평가받는다.
- 주최 측 수석 엔지니어는 이번 성과가 기초 기술 검증 단계에 불과하며 박막 증착, 식각, 계측, 수율 확보 등 대규모 양산까지는 여전히 기술적 장벽이 크다고 강조했다.
- 중국 반도체 업계는 7nm 이하 해외 장비와 EDA 툴에 대한 의존도를 낮추기 위해 기존 성숙 공정 가치 극대화 및 독자적 대안 경로 확보에 집중하고 있다.
https://www.digitimes.com/news/a20260917PD204/china-3nm-duv-euv-gaa-development.html
